在成本和質量優勢取得由非接觸式的太陽能電池和光電模組的熱影像測試。

為確保高品質的太陽能電池和模組的熱影像解決方案如下：

1. 可用於所有類型（矽或薄膜太陽能電池和模組）

2. 在製造過程中在實驗室和在線測試

3. 經由接觸和非接觸式測量的各種太陽能電池和模組的測試

4. 特殊晶片系統缺陷測試

以lock-in熱像技術準確地表現缺陷

PV-LIT系統整合一個幾百°C的高解析度溫度高性能的紅外線熱像儀以確保精確的檢測缺陷。因此，lock-in熱像儀系統可以用來進行太陽能電池的脈衝激發，例如通過LED和觸發的圖像收集。甚至表面下缺陷也能被截取，或經由加逆向偏壓，將被檢測物產生的過熱清楚地顯示。

尖端控制的軟體系統

（如圖。PV-LIT評估軟體）

PV-LIT軟體確實檢測缺陷它的重要參數，如激發和暴露頻率或激觸發位準，可允許被設定。因此，它可以顯示振幅圖像和相位圖像也可自由定義支援缺陷的檢測和分類。

靈活的應用於各類的晶片和故障檢測

(如圖。太陽能背光測試系統）

大面積的光電太陽能發電廠需要品質優良的高性能太陽能電池和模組。InfraTec PV-LIT熱影像檢測系統可以測試各類太陽能電池，即使在生產過程中的缺陷。連續的生產品質控制，它也可能的在早期階段找出製造中有缺陷的晶片，以避免額外的費用。根據對被測試的缺陷類型，PV-LIT也提供接觸測試（DLIT）以及非接觸式測試（ILIT）。

產品型錄

ImageIR®

VarioCAM® HD head